选择工具

选择工具支持在主窗口、TIN窗口和剖面窗口任意选择。选择数据后会直接执行在分类方法面板中选择的分类方法。

图标	描述	快捷键
	多边形选择	Shift+P
	矩形选择	Shift+R
	圆形选择	Shift+C
	线上选择	L
	线下选择	Shift+L
	套索选择	Ctrl+Shift+L
	圆形画刷选择	Shift+F
	平面探测	Ctrl+Shift+D
	切换选择工具	Shift+Q

下面对可设置参数的两种工具进行参数设置说明。

圆形画刷

• 选择半径：通过设置半径像素值，控制画刷的选择范围。

平面探测

点击平面探测，通过屏幕上圆形选择区域内的点拟合平面，探测同属同一平面的点，进行平面生长。

• 容差（米）：指待探测点与拟合平面之间的距离阈值，阈值的调整主要控制探测平面的厚度。
• 范围（像素）：初始拟合平面点的区域范围，应尽量选取范围内的点是同一平面的。
• 步长（米）：探测平面向外延伸生长的步长。

使用SAM探测区域

场景中加载匹配的影像和点云数据，开启功能后，在影像数据上通过鼠标交互，进行区域探测，确定后即将该区域内初始类别的点云转为目标类别。

在以下两种情况下会进行分类操作：

1. 不按下shift或alt键时，鼠标点击场景探测出区域，会对上一次的探测的多边形区域进行分类；

2. 点击界面【确认】按钮会对场景中显示的多边形区域进行分类。

参数设置

• 选择工具：指定自动提取矢量的交互方式
  • 点选择：鼠标左键单击自动提取矢量，按下shift键的同时，单击鼠标左键增加正点，按下alt键的同时，单击鼠标左键增加负点。
  • 矩形选择：鼠标左键单击确定矩形起点，移动鼠标鼠标左键单击确定矩形终点，自动提取矢量。
  • 确认：确认当前区域，将会对场景中显示的多边形区域进行分类。并且在下一次点击并探测出区域之前，不再支持增加正点或者负点。
• 简化：对提取的矢量进行简化。
  • 最大像素距离：指定保留点到线的最大距离偏差。随着距离变小，保留的越多，从线中删除的点越少。
• 平滑 ：对提取的矢量进行平滑。
  • 均值平滑（3\5\7邻域）：对于矢量线上的每个点使用3\5\7邻域进行均值平滑。
  • 贝塞尔平滑（线控制）：使用分段贝塞尔曲线进行平滑，生成的矢量线不过控制点。
  • 贝塞尔平滑（点控制）：使用分段贝塞尔曲线进行平滑，生成的矢量线过控制点。
  • B样条曲线（点控制）：使用三次B样条曲线进行平滑，生成的矢量线过部分控制点。
  • B样条曲线拟合：使用三次B样条曲线进行拟合，生成的矢量线不过控制点。
• 正则化 ：对自动提取的矢量进行正则化。
  • 角度阈值：夹角小于此阈值的线段将会被合并为直线。
  • 最大像素距离：指定保留点到线的最大距离偏差。随着距离变小，保留的越多，从线中删除的点越少。